Problem 1610 --芯片测试1610: 芯片测试
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裁判形式 |
标准裁判/Standard Judge |
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尚未尝试 |
难度 |
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  基础练习  芯片测试 
时间限制:1.0s    内存限制:512.0MB
   
问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i,  j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本  身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1  0  1
0  1  0
1  0  1
样例输出
1  3
本题记录 |
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算法最快[$0 $ms]
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淡意的温柔
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2020-05-08 14:44:21 |
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许润润@信息与计算科学152
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248531 |
2018-05-18 11:21:35 |
第一AC |
AOJ大管家 |
98263
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2017-05-31 15:39:39 |
第一挑战 |
AOJ大管家
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98263 |
2017-05-31 15:39:39 |